UHV PAN式低溫掃描探針顯微鏡系統(tǒng)

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	Pan式低溫掃描探針顯微鏡析系統(tǒng)是由美國RHK Technology公司制造的，主要特點包括： - PAN STM/AFM掃描頭體積極?。?.96”X1.55”) -集成了樣品X-Y-Z方向的大范圍移動（5mmX5mmX10mm）- 工作溫度包括了低溫300mK、RT、VT和HT多種范圍 -內(nèi)置彈簧和渦流阻尼減震系統(tǒng)，原位針尖與樣品更換 - 兼容多種Flow式或Bath式低溫恒溫器與磁體- 與RHK最新全數(shù)字R9控制器一同使用適用于拓?fù)浣^緣體、低溫超導(dǎo)、表面結(jié)構(gòu)、電學(xué)測量等表面科學(xué)研究中。

主要技術(shù)參數(shù):


- 工作模式：STM與非接觸式AFM	- 掃描范圍：5umX5um （RT）
- 溫度范圍：<300mK; RT; VT; HT	- 樣品尺寸：10mmX10mm
- X-Y-Z位移范圍：5mmX5mmX10mm	- 掃描頭尺寸：40mmX70mm

結(jié)構(gòu)緊湊，體積極小：內(nèi)置減震系統(tǒng)、可水平或垂直放置

Pan式低溫掃描探針顯微鏡結(jié)構(gòu)極其緊湊，核心部分尺寸在~40X70mm左右；內(nèi)置有彈簧和渦流阻尼減震系統(tǒng)；根據(jù)用戶的要求，可以提供水平放置配置和垂直放置配置兩種；初次之外，它兼容常用的低溫恒溫器和磁體，并提供相應(yīng)的集成方案。

原位樣品與探針更換 ：

操做簡單、快速；性能可靠

在低溫和超高真空環(huán)境中，樣品和針尖的原位更換一直是使用者非常關(guān)心的問題。為此，RHK公司為Pan式低溫掃描探針顯微鏡開放了一套性能可靠、操作簡單快速的原位樣品與針尖更換裝置，并提供了多個樣品與針尖的放置室。

Pan式低溫掃描探針顯微鏡中使用的樣品架靈活多樣，可充分滿足各種實驗要求，如原位加熱、樣品剝離、樣品轟擊等等；同時，它還兼容其他的商業(yè)化掃描探針顯微鏡中所配備的樣品架。